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INVITATION

 

邀请函

 

2nd 高质量DIC数字图像相关测量技术应用研讨会

High quality DIC measurement application workshop

—— 探讨高质量的DIC测量所需知识储备及应用边界

 

      

您是否正在考虑应用DIC数字图像相关测量技术于科研与研发?

您是否正在被DIC测量过程中所遇到的问题和纷繁的测量质量影响因素所困扰?

您是否对已获得的DIC测量数据的精度与可靠性存疑?

您是否被DIC测量能够获得的丰富数据所吸引但又不清楚DIC方法可应用的限制边界在哪里?

 

—— 来参加我们完全开放的技术研讨会吧,消除不确定性,找到您需要的答案!

 

        DIC数字图像相关技术(Digital Image Correlation)源自美国南卡罗莱纳大学(USC),其衍生的相关测量应用如全场数据的应变、变形、位移、振幅、模态等信息的测量和获取,使其在全球军事、核电、航空航天、汽车交通、土木结构、材料部件等领域得到广泛应用。中国已有越来越多的用户开始了解和使用DIC测量技术及产品,在各类高校院所、科研机构、及工业领域都有深入应用,迄今该技术在国内已有超过数百家客户应用,并取得卓有成效的科研成果。

       我们,研索仪器科技(上海)有限公司,作为DIC技术的原创者——来自南卡罗莱纳大学的美国Correlated Solutions, Inc (CSI)公司中国南方区合作伙伴,基于CSI公司超过30年的DIC研发底蕴与应用经验,让我们有幸更深入的理解DIC测量技术的理论和达到更高的应用层次,结合研索仪器工程技术人员在中国近8年的DIC用户服务经验,现在,我们已不满足于仅仅展示那些炫酷的应用案例,还将探讨和分享其背后所涉及的背景知识给每一位DIC用户,梳理我们实现高质量DIC测量技术应用所需的基础知识,让您也掌握并创造属于自己的高质量的DIC测量案例!

        本次研讨会将由研索仪器科技(上海)有限公司20195月分别在南京、武汉举办。会议将为用户就DIC背景知识、基础知识、应用边界、成功经验与新领域应用等方面开展广泛交流。同时现场将有设备演示活动以供与会代表参观。

         在此,我们诚挚邀请关注DIC测量技术及应用的各位专家学者及各界人士莅临!

 

 

议程安排

 

报告主题日程表

13:00-13:30

会议签到

13:30-14:20

DIC 测量原理与高质量DIC测量应用

 

14:20-15:00

DIC测量质量的关键影响因素

 

25分钟

WorkShop展示/茶歇

15:25-16:05

DIC测量的应用边界与软、硬件关系

 

16:10-16:40

DIC测量的精度控制与评估

 

17:00-17:20

Vic-3D应用技巧演示

 

 

 

时间地点

 

时间与地点:

        南京:2018529日(周三)下午100530

        武汉:2018531日(周五)下午100530

会务联系:  021-3412 6269

联系人

             窦连玉 152 1025 0030       Dou.ly@acqtec.com

       潘栋梁 134 2648 0688      Pan.dl@acqtec.com

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