INVITATION
邀请函
2nd 高质量DIC数字图像相关测量技术应用研讨会
High quality DIC measurement application workshop
—— 探讨高质量的DIC测量所需知识储备及应用边界
您是否正在考虑应用DIC数字图像相关测量技术于科研与研发？
您是否正在被DIC测量过程中所遇到的问题和纷繁的测量质量影响因素所困扰？
您是否对已获得的DIC测量数据的精度与可靠性存疑？
您是否被DIC测量能够获得的丰富数据所吸引但又不清楚DIC方法可应用的限制边界在哪里？
—— 来参加我们完全开放的技术研讨会吧，消除不确定性，找到您需要的答案！
DIC数字图像相关技术(Digital Image Correlation)源自美国南卡罗莱纳大学(USC)，其衍生的相关测量应用如全场数据的应变、变形、位移、振幅、模态等信息的测量和获取，使其在全球军事、核电、航空航天、汽车交通、土木结构、材料部件等领域得到广泛应用。中国已有越来越多的用户开始了解和使用DIC测量技术及产品，在各类高校院所、科研机构、及工业领域都有深入应用，迄今该技术在国内已有超过数百家客户应用，并取得卓有成效的科研成果。
我们，研索仪器科技(上海)有限公司，作为DIC技术的原创者——来自南卡罗莱纳大学的美国Correlated Solutions, Inc (CSI)公司中国南方区合作伙伴，基于CSI公司超过30年的DIC研发底蕴与应用经验，让我们有幸更深入的理解DIC测量技术的理论和达到更高的应用层次，结合研索仪器工程技术人员在中国近8年的DIC用户服务经验，现在，我们已不满足于仅仅展示那些炫酷的应用案例，还将探讨和分享其背后所涉及的背景知识给每一位DIC用户，梳理我们实现高质量DIC测量技术应用所需的基础知识，让您也掌握并创造属于自己的高质量的DIC测量案例！
本次研讨会将由研索仪器科技（上海）有限公司于2019年5月分别在南京、武汉举办。会议将为用户就DIC背景知识、基础知识、应用边界、成功经验与新领域应用等方面开展广泛交流。同时现场将有设备演示活动以供与会代表参观。
在此，我们诚挚邀请关注DIC测量技术及应用的各位专家学者及各界人士莅临！
议程安排
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报告主题日程表 |
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13:00-13:30 |
会议签到 |
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13:30-14:20 |
DIC 测量原理与高质量DIC测量应用 |
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14:20-15:00 |
DIC测量质量的关键影响因素 |
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25分钟 |
WorkShop展示/茶歇 |
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15:25-16:05 |
DIC测量的应用边界与软、硬件关系 |
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16:10-16:40 |
DIC测量的精度控制与评估 |
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17:00-17:20 |
Vic-3D应用技巧演示 |
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时间地点
时间与地点：
南京：2019年5月29日（周三）下午1：00至5：30
武汉：2019年5月31日（周五）下午1：00至5：30
会务联系: 021-3412 6269
联系人:
窦连玉 152 1025 0030 Dou.ly@acqtec.com
潘栋梁 134 2648 0688 Pan.dl@acqtec.com
